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軸對(duì)準(zhǔn)是單一系統(tǒng)光軸校準(zhǔn)或者是一系列光學(xué)或者光電系統(tǒng)的的參考光軸或機(jī)械軸校準(zhǔn)。更好的軸校準(zhǔn)在由一系列系統(tǒng)組成如紅外熱像儀，可見(jiàn)光/近紅外相機(jī)，短波紅外相機(jī)，激光測(cè)距機(jī)，激光指示器等組成的光電多傳感器監(jiān)控系統(tǒng)中起著重要的作用。  

多傳感器光電系統(tǒng)是軸對(duì)準(zhǔn)最難的情況。 因此，本節(jié)中的術(shù)語(yǔ)“軸對(duì)準(zhǔn)”是指用于多傳感器光電系統(tǒng)的基礎(chǔ)測(cè)試與軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試。 雙目夜視裝置和激光測(cè)距儀的軸對(duì)準(zhǔn)需要使用單獨(dú)的測(cè)試系統(tǒng)。 Inframet提供三個(gè)主要的測(cè)試系統(tǒng)用于光電系統(tǒng)的基礎(chǔ)測(cè)試與軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試：JT測(cè)試系統(tǒng)，JAT測(cè)試系統(tǒng)和JIMS測(cè)試系統(tǒng)。

圖1. JT400軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)	圖2。 J1T-300校軸系統(tǒng)
圖3. JIMS軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)
圖4. JAT200軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)	圖5. JTAR便攜式視軸站

JT測(cè)試系統(tǒng)是模塊化的準(zhǔn)通用測(cè)試系統(tǒng)，可以擴(kuò)展到軸對(duì)準(zhǔn)和多傳感器光電系統(tǒng)的基本參數(shù)測(cè)試。 這些測(cè)試系統(tǒng)通常是實(shí)驗(yàn)室/倉(cāng)庫(kù)環(huán)境應(yīng)用級(jí)別。 Inframet的一些客戶建立了特殊的平臺(tái)，可以運(yùn)輸這些系統(tǒng)，并在實(shí)驗(yàn)室外進(jìn)行測(cè)試。 但是，這種情況是規(guī)則的一個(gè)例外。

J1T可以看作是JT測(cè)試系統(tǒng)的特殊版本，特殊之處有兩點(diǎn)：
1.使用離軸反射式平行光管（無(wú)中心死區(qū)）代替中心反射式平行光管，
2.僅使用一個(gè)反射鏡（無(wú)第二平面反射鏡，也就避免了被高能激光損壞的可能性）。

JAT測(cè)試系統(tǒng)可以認(rèn)為是一個(gè)特殊的可移動(dòng)軸校準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)最優(yōu)化設(shè)計(jì)于測(cè)試多傳感器光電系統(tǒng)在野外環(huán)境。JAT測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)緊湊的，輕量化的測(cè)試系統(tǒng)用于軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試以及多傳感器光電系統(tǒng)基礎(chǔ)測(cè)試。其次，該測(cè)試系統(tǒng)可以最優(yōu)化設(shè)計(jì)于支持不同尺寸光學(xué)傳感器的多傳感器光電系統(tǒng)。以上的這些功能描述使得JAT測(cè)試系統(tǒng)適用于多傳感器光電系統(tǒng)在執(zhí)行重要命令之前的測(cè)試及維修。
JIMS測(cè)試系統(tǒng)可以作為JT測(cè)試系統(tǒng)的特殊版本，最優(yōu)化適用于測(cè)試光學(xué)口徑超過(guò)1000mm的光電系統(tǒng)。對(duì)于水平方向布局的光電系統(tǒng)測(cè)試是一套近乎完美的方案。然而，需要注意的是JIMS測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試精度比典型的JT測(cè)試系統(tǒng)略差。

當(dāng)測(cè)試具有位于大型水平平臺(tái)上的EO傳感器的EO系統(tǒng)時(shí)，這是一個(gè)近乎完美的解決方案。 但是，應(yīng)該注意的是，與使用典型JT站的視軸精度相比，使用JIMS站的視軸精度略差。

JTAR軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試站設(shè)計(jì)不同于典型的軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)，典型的軸對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)基于圖像投影系統(tǒng)位于被測(cè)試系統(tǒng)的近距離位置且與被測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行理想的對(duì)準(zhǔn)。JTAR測(cè)試站采用了位于被測(cè)試系統(tǒng)很遠(yuǎn)距離的可移動(dòng)式激光靶標(biāo)，其靶標(biāo)可以同時(shí)被紅外相機(jī)與VIS-NIR相機(jī)采集，進(jìn)而測(cè)試成像探測(cè)器之間的軸對(duì)準(zhǔn)偏差。